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當前位置:首頁  >  產品中心  >  Thetametrisis膜厚儀  >  硅片厚度測量儀

  • Filmetrics F3-sX硅片厚度測量

    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。

    更新時間:2021-02-18
    型號:Filmetrics F3-sX
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:216
  • FR-Scanner顯示器薄膜測量

    顯示器薄膜測量儀獨特的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。

    更新時間:2021-01-24
    型號:FR-Scanner
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:992
  • FR-Mic多層膜厚度測試

    FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快 速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,可以將光斑縮小到幾個微米,進而分析微小區域或者粗糙表面薄膜特征。

    更新時間:2021-02-18
    型號:FR-Mic
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:1634
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