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  • EVG610 BA晶圓缺陷檢測設備

    晶圓缺陷檢測設備專為晶圓與晶圓對準設計,晶圓尺寸大可達150 mm。EV Group鍵合對準系統提供手動高精度帶有底部顯微鏡的校準臺。EVG的鍵合對準系統的精度能滿足MEMS生產和3D集成應用等新興領域中苛刻的對準要求。

    更新時間:2021-02-18
    型號:EVG610 BA
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:1130
  • nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統

    nSpec LS晶圓缺陷檢測光學系統是研發和過程開發的理想系統。它按順序運行多個掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費力。而且,隨著需求的發展,配方保存和修改也是非常方便的。

    更新時間:2021-06-09
    型號:nSpec LS
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:201
  • nSpec Macro微流控缺陷檢測

    微流控缺陷檢測 nSpec Macro可以照亮樣品的整個面,或設置照明角度和/或離散照明矢量。 明場,暗場,正交和可配置的傾斜照明角度與可單獨配置的LED,配合使用可調節照明的強度,顏色和位置。

    更新時間:2021-01-24
    型號:nSpec Macro
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:1402
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